Nations N32G032K6Q7
" (785)N32G032K6Q7闩锁测试报告（S201028094）
本报告为N32G032K6Q7元器件的 latch-up 测试报告，测试项目包括ESD/latch-up测试。测试结果显示，所有测试点均通过测试，符合JEDEC标准。报告详细记录了测试条件、测试结果、测试仪器等信息，并附有测试数据和分析。
N32G032K6Q7静电放电（ESD）测试报告（S201028094）
本报告为Nations Technologies Inc.提交的N32G032K6Q7元器件的静电放电（ESD）测试报告。测试项目为CDM，采用ESDA/JEDEC JS-002-2018标准，在25 ± 5 °C温度和55 ± 5%湿度条件下进行。测试电压范围为±500V至±1000V，测试结果符合最小通过水平±1000V的要求。报告详细记录了测试条件、原始数据和测试结果，并附有测试仪器信息、测试准则和测试设备清单。
N32G032K6Q7_STB
N32G032P6W7、N32G032P8W7静电放电测试报告（S201022115）
本报告为Nations Technologies Inc.提交的N32G032P6W7和N32G032P8W7两款产品的静电放电（ESD）测试报告。测试依据MIL-STD-883K标准，采用人体模型（HBM）进行，测试电压范围为±2000V至±4000V。测试结果显示，所有测试样品均通过ESD测试，最小通过电压为±4000V。报告还包含了测试条件、原始数据、测试仪器信息、测试结果分析等内容。
N32G032P6W7, N32G032P8W7 Latch-up TESTING REPORT (S201022115)
N32G032C8L7（SGS）测试报告（SZXEC2300116801）
本报告为SGS-CSTC Standards Technical Services Co., Ltd.深圳分公司出具，针对N32G032C8L7型号元器件样品进行多项有害物质测试。测试内容包括铅、镉、汞、六价铬、多溴联苯（PBBs）、多溴联苯醚（PBDEs）、邻苯二甲酸盐等，均未检测到有害物质含量超过限值。测试方法遵循国际标准，包括ICP-OES、UV-Vis、GC-MS等。
N32G032P6W7、N32G032P8W7电气过应力（EOS）测试报告（S201202127）
本报告为Nations Technologies Inc.提交的S201202127号产品的电气过应力（EOS）测试报告。报告内容包括测试概述、引脚分配、测试条件、原始数据、通过/失败标准以及测试设备信息。测试结果显示，产品在+8V电压下通过EOS测试，符合IEC 61000-4-5标准。
N32G032K6L7（SGS）测试报告（SZXEC2100177901）
本报告为SGS-CSTC Standards Technical Services Co., Ltd.深圳分公司出具，编号为SZXEC2100177901，日期为2021年1月20日。报告内容涉及对N32G032K6L7型号元器件的测试结果，包括重金属、多溴联苯、多溴联苯醚和邻苯二甲酸酯等有害物质的检测。测试方法遵循国际和欧洲标准，如IEC 62321系列和EN 14582。所有测试项目均未检测到有害物质含量超过限值。
N32G032P6W7 265-RDL+Bump产品可靠性试验报告 (PQ2021042301) (N32G032P6W7 265-RDL+Bump RELIABILITY TEST REPORT (PQ2021042301))
本报告为通富微电子股份有限公司关于265-N32G032P6W7(RDL+Bump)产品的可靠性试验报告。报告内容包括产品信息、试验流程、试验结果和详细试验条件。试验结果显示，该产品在经过一系列的可靠性测试后，包括预处理、干燥烘焙、吸湿、回流、电性能测试、高温高湿存储、高温高湿加速寿命测试、温度循环测试和高压蒸煮测试等，均表现良好，最终试验结果为通过。
N32G032R8L7闩锁测试报告（S201028087）
本报告为N32G032R8L7元器件的闩锁测试报告，测试项目包括闩锁（LU），测试条件符合JESD78E标准。测试结果显示，所有测试点均通过测试，未发现闩锁现象。报告还包含了测试条件、原始数据、测试仪器信息、测试结果分析等内容。
N32G032P6W7 265-RDL+Bump产品可靠性试验报告 (PQ2021042302) (N32G032P6W7 265-RDL+Bump RELIABILITY TEST REPORT (PQ2021042302))
本报告为通富微电子股份有限公司关于265-N32G032P6W7(RDL+Bump)产品的可靠性试验报告。报告内容包括产品信息、试验流程、试验结果和详细试验条件。试验结果显示，该产品在经过一系列高温、湿度、温度循环等可靠性测试后，电性能测试均通过，表明产品可靠性良好。
N32G032C8L7闩锁测试报告（S201028086）
本报告为N32G032C8L7元器件的 latch-up 测试报告，测试项目包括ESD/latch-up测试。测试结果显示，所有测试点均通过测试，符合规定的测试标准。报告详细记录了测试条件、测试结果、测试仪器等信息，并附有测试数据和分析。
N32G032F6S7闩锁测试报告（S201028087）
本报告为N32G032F6S7元器件的 latch-up 测试报告，测试项目包括 latch-up、ESD 和过压测试。测试结果显示，所有测试项目均通过，符合 JEDEC 标准要求。报告详细记录了测试条件、测试结果、测试仪器等信息，并附有测试数据和分析。
N32G032P6W 7_机顶盒
该资料为N32G032P6W7_STB的电路图，包含MCU、电阻、电容等元器件布局，以及NS-LINK接口定义。电路图标注了元器件型号、引脚连接和电源配置，适用于开发基于N32G032P6W7的电子设备。
N32G032R8L 7_
本资料主要涉及元器件行业的技术规格和参数，包括N32G032R8L7_STB型号的详细规格，如尺寸、重量、性能指标等。资料还可能包含该型号的适用范围、工作条件以及与其他型号的对比分析。
N32G032F6U 7_机顶盒
本资料为N32G032F6U7微控制器（MCU）的电路图，包括电源、时钟、复位、通信接口等关键部件的布局和连接。电路图详细展示了MCU与外围元件的连接方式，如电容、电阻、晶振等，以及引脚功能分配。资料还包括了电路图的标题、尺寸、版本和日期等信息。
N32G032K6L7_STB
N32G032C8L7_STB
N32G032F6U7_STB原理图
这份资料是一份关于N32G032F6U7_STB的电路图，详细展示了电路的布局和元件连接。图中包含了多个元件，如MCU、电阻、电容等，以及它们的连接关系。电路图还包括了标题、日期、公司信息等元数据。
N32G032P6W7_STB原理图
这份资料主要涉及一款型号为N32G032P6W7_STB的元器件的详细规格和电路设计。内容包括了元器件的引脚配置、电路图、电气特性、工作条件等。资料中详细描述了元器件的各个功能模块，如MCU唤醒、复位、调试USB接口等，并提供了相应的电路连接和元件参数。此外，资料还包括了元器件的机械尺寸和图纸信息。
N32G032R8L7_STB_V1.0原理图
该资料为N32G032R8L7_STB_V1.0版本的技术文档，内容涉及N32G032R8L7微控制器的引脚定义、功能说明和电气特性。文档详细列出了各个引脚的名称、对应功能、连接方式以及电气参数，适用于开发人员了解和使用该微控制器。
国民技术（Nations）芯片产品选型指南（英文）
国民技术股份有限公司成立于2000年，是承担国家“909”超大规模集成电路专项的集成电路设计企业之一，2010年在创业板上市（股票代码：300077），是通用MCU和安全IC的龙头企业，国家高新技术企业。公司总部位于深圳，在北京、上海、武汉、西安、重庆、香港、新加坡、奥斯汀、东京等地设有分支机构。
国民技术（Nations）芯片产品选型表（英文）
MCUs embed high-speed flash memory and low power consumption power supply manage- ment units, integrated mixed-signal circuits, and built-in acceleration engines that are based on hardware security algorithms as well as security units.~~~~~~MCU嵌入了高速闪存和低功耗电源管理单元、集成混合信号电路以及基于硬件安全算法和安全单元内置加速引擎。
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Nations Device SCH_PCB Liabrary & 3D Liabrary
N32G031K8Q7-STB开发板硬件用户指南
本指南旨在帮助用户快速熟悉N32G031K8Q7-STB开发板，了解其功能、使用说明和注意事项，以便基于该开发板进行MCU调试和开发。指南详细介绍了开发板的硬件布局、功能接口、跳线说明、原理图等内容，并提供了版本历史和注意事项。
N32G031F6S7-STB开发板硬件用户指南
本指南旨在帮助用户快速熟悉N32G031F6S7-STB开发板，了解其功能、使用说明和注意事项，以便基于该开发板进行MCU调试和开发。指南详细介绍了开发板的硬件布局、功能接口、跳线说明、原理图等内容，并提供了版本历史和注意事项。
N32G031K8Q7-1-STB开发板硬件用户指南
本指南旨在帮助用户快速熟悉N32G031K8Q7-1-STB开发板，了解其功能、使用说明和注意事项，以便基于该开发板进行MCU调试和开发。指南详细介绍了开发板的硬件布局、功能接口、跳线说明、原理图等内容，并提供了版本历史和注意事项。
N32G031C8L7-STB开发板硬件用户指南
本指南旨在帮助用户快速熟悉N32G031C8L7-STB开发板，了解其功能、使用说明和注意事项，以便基于该开发板进行MCU调试和开发。指南详细介绍了开发板的硬件布局、功能接口、跳线说明、原理图等内容，并提供了版本历史和注意事项。
N32G030KXL7-STB开发板硬件用户指南
本指南旨在帮助用户快速熟悉N32G030K8L7-STB和N32G030K6L7-STB开发板，了解其功能、使用说明和注意事项，以便基于开发板进行MCU调试和开发。指南详细介绍了开发板的功能、布局、跳线说明和原理图，并提供了版本历史和注意事项。
N32G030K6Q7-STB开发板硬件用户指南
本指南旨在帮助用户快速熟悉N32G030K6Q7-STB开发板，了解其功能、使用说明和注意事项，以便基于开发板进行MCU调试和开发。指南详细介绍了开发板的硬件布局、功能接口、跳线说明、原理图等内容，并提供了版本历史和注意事项。
N32G030K6Q7-1-STB开发板硬件使用指南
本指南旨在帮助用户快速熟悉N32G030K6Q7-1-STB开发板，了解其功能、使用说明和注意事项，以便基于该开发板进行MCU调试和开发。指南详细介绍了开发板的硬件布局、功能接口、跳线说明和电路图，并提供了版本历史和注意事项。
N32G030F6U7-STB开发板硬件用户指南
本指南旨在帮助用户快速熟悉N32G030F6U7-STB开发板，了解其功能、使用说明和注意事项，以便基于该开发板进行MCU调试和开发。指南详细介绍了开发板的硬件布局、功能接口、跳线说明、原理图等内容，并提供了版本历史和注意事项。
N32G030F6S7-STB开发板硬件用户指南
本指南旨在帮助用户快速熟悉N32G030F6S7-STB开发板，了解其功能、使用说明和注意事项，以便基于该开发板进行MCU调试和开发。指南详细介绍了开发板的硬件功能、布局、跳线说明和原理图，包括电源、调试USB、SWD接口、串口、复位和唤醒按钮、通用按键、GPIO接口等。
N32G030 x6/x8 Product Brief
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N32G031x6/x8 Datasheet
N32G030x6/x8 Datasheet
Nations Inspired by nature
N32G030 series based on Arm® Cortex®-M0, runup to 48MHz, up to 64KB embedded flash, 8KB SRAM, integrated analog interface, 1x12bit 1Msps ADC, 1xOPAMP, 1xcomparator, integrated multi-channel U(S)ART, I2C, SPI and other digital communication interfaces Datasheet
UG_N32G031启动用户指南
本指南详细介绍了N32G031系列MCU的BOOT程序，包括其功能、实现和使用方法。BOOT程序主要提供用户程序下载、API等功能。文档涵盖了BOOT启动过程、命令处理、数据结构、命令描述以及状态字返回等内容，旨在帮助用户了解如何通过USART接口下载用户程序和数据。
UG_N32G030启动用户指南V1.1.0
本指南详细介绍了N32G030系列MCU的BOOT程序，包括其功能、实现和使用方法。BOOT程序主要提供用户程序下载、API等功能。文档涵盖了BOOT启动过程、命令处理、数据结构、命令描述以及状态字返回等内容，旨在帮助用户了解如何通过USART接口下载用户程序和数据。
UG_N32G030启动用户指南V1.1
本指南详细介绍了N32G030系列MCU的BOOT程序，包括其功能、实现和使用方法。BOOT程序主要提供用户程序下载、API等功能。指南涵盖了BOOT功能定义、启动过程、命令处理、数据结构、命令描述以及状态字返回等内容。此外，还提供了版本历史和注意事项。
N32G031系列晶体选型指南
本指南详细介绍了N32G031系列微控制器（MCU）的晶振选择指南，为用户提供参考。内容包括晶振应用电路、电容选择、晶振测试（包括LSE参数配置、晶振频率测试和晶振兼容性测试）等。指南旨在帮助用户选择合适的晶振，确保MCU的正常运行。
N32G031x6/x8 Product Instruction
N32G030C8L7-STB开发板硬件用户指南
本指南旨在帮助用户快速熟悉N32G030C8L7-STB开发板，了解其功能、使用说明和注意事项，以便基于该开发板进行MCU调试和开发。指南详细介绍了开发板的硬件布局、功能接口、跳线说明、原理图等内容，并提供了版本历史和注意事项。
N32G031 series 32-bit ARM Cortex®-M0 microcontroller User manual
N32G030x系列勘误表
本资料为N32G030x系列元器件的纠错清单，涵盖了电源、时钟、GPIO、ADC、SPI、I2S、I2C、USART、TIM、LPTIM、RTC等多个模块的纠错信息。包括电源关闭后重新启动可能失败、LSI运行程序时偏斜、LSE受相邻引脚切换影响、HSE不稳定导致芯片运行异常、GPIO模拟功能切换时电压下降、IO反向电流问题、ADC注入通道触发时常规通道也被触发、SPI和I2S通信速率问题、I2C传输字节时软件事件管理、USART奇偶校验错误标志、TIM过捕获、LPTIM计数模式配置、RTC定时问题等多个方面。
N32G031X系列勘误表
本资料为N32G031x系列元器件的错误清单，详细列出了多个模块的错误描述和解决方案。涉及到的模块包括RCC、GPIO和AFIO、ADC、SPI&I2S、I2C、USART、TIM、RTC等。主要问题包括LSE受相邻引脚切换影响、GPIO模拟功能切换时电压下降、ADC注入通道触发时常规通道也被触发、SPI波特率设置异常、I2S主模式PCM长帧模式WS信号周期错误、I2C传输前必须处理软件事件、USART奇偶校验错误标志、TIM过捕获、RTC子秒匹配、秒匹配和日历功能初始化等。
N32G031X系列勘误表V1.1
本资料为N32G031x系列元器件的纠错清单，涵盖了电源、时钟、GPIO、ADC、SPI、I2S、I2C、USART、TIM、LPTIM、RTC等多个模块的纠错信息。包括电源关闭后重新启动可能失败、LSE受相邻引脚切换影响、GPIO模拟功能切换时输出电压下降、ADC注入通道触发时常规通道也被触发、SPI波特率设置异常、I2S主时钟不输出、I2C传输前必须处理的事件、USART奇偶校验错误标志、TIM过捕获、LPTIM计数模式配置、RTC计时、RTC日历功能初始化等问题及解决方案。
N32G031系列MCU硬件设计指南
本指南详细介绍了N32G031系列MCU的硬件设计要点，包括电源供应、复位电路、时钟电路、启动引脚连接、独立ADC转换器、IO上电脉冲处理、IO耐压、防静电设计、调试接口和串行接口等。同时，提供了最小系统参考设计图和PCB布局参考，以及典型故障分析。
N32G030系列MCU硬件设计指南
本指南详细介绍了N32G030系列MCU的硬件设计要点，包括电源供应、复位电路、时钟电路、启动模式、ADC转换器、IO处理、耐压设计、防静电设计、调试接口和最小系统参考设计等。指南提供了详细的硬件设计检查清单，包括电源方案、外部引脚复位电路、外部时钟电路、启动引脚连接、独立ADC转换器、IO上电脉冲处理、IO耐压、防静电设计、调试接口和串行BOOT接口等。此外，还包括了整体设计建议、最小系统参考设计图、PCB布局参考和典型故障分析等内容。
N32G031系列安全启动应用说明
本资料介绍了N32G031系列微控制器（MCU）在安全启动方面的应用，包括符合IEC60730软件安全相关操作的要求。内容涵盖启动检测流程、运行时检查过程、软件库迁移要点等，旨在确保电子设备的安全性和可靠性。资料详细描述了CPU、看门狗、闪存、RAM、系统时钟和控制流等方面的检测方法，以及运行时检测的周期性自我检查过程。
N32G030 Series MCU Hardware Design Guide
N32G030系列安全启动应用说明
本资料介绍了N32G030系列微控制器（MCU）在安全启动方面的应用，包括符合IEC60730软件安全相关操作的要求。内容涵盖软件安全标准的介绍、启动检测流程、运行时检查过程以及软件库迁移的关键点。资料详细描述了CPU、看门狗、闪存、RAM、系统时钟和控制流的检测方法，并提供了运行时自检的流程图。此外，还强调了软件库迁移的关键步骤和注意事项。
About Nations August 2023
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